2010年10月13日消息，日前，日本National Instrument（NI）公司宣布已经将LTE测试技术成功地移植到其NI公司即将推出的LTE测量设备的RF测试产品模块上。该LTE测量设备包括了PXI RF信号产生器和分析仪。NI公司工程师将携该LTE测量设备亮相于2010年10月20日到21日在美国芝加哥举行的2010 4G世界展览会。
该设备主要用于测试3GPP LTE无线通信器件、子系统器件和移动通信基站。其先进的测试软件软件设计将为相关业内工程师在对产品性能进行自动评估和产品测试系统以及LTE相关产品提供快捷、灵活、精确的测试、测量方案。
该LTE测试测量设备是基于NI公司自动测试软件和PXI模块的一套测试系统。该系统包括新型NI LTE测试软件、NI PXIe-5663E 6.6GHz矢量信号分析仪、NI PXIe-5673E 6.6GHz矢量信号产生器和一个PXI机架和控制器。该套设备中的硬件为测试工程师在测量前端RF和无线标准通信网络，以及LTE和其他下一代标准网络提供了有力帮助。
据悉，该LTE测试设备在测量网络时能达到精确调制测量效果，其自动测试功能比传统设备快3倍至5倍。
此外，该LTE测量系统设备还可与NI公司别的硬件和软件产品相兼容，如与无线通信测试软件嵌套对GSM/EDGE和WCDMA/HSPA+，以及固线和移动WiMAX、无线LAN、GPS、AM/FM和蓝牙产品进行测量