Pour une meilleure résolution de l'image:
http://www.ggcomm.com/KEI/S530_PR_HR.jpg
ou contactez: info@prismapr.com
Communiqué de presse 7/2012
De nouvelles fonctionnalités de mesure sur les systèmes de test paramétrique S530
Commutation Kelvin 48 points ● Options: oscillateur annulaire, générateur d'impulsions, DMM bas niveau
Cleveland, Ohio, 29 mars 2012 * * * Keithley Instruments, l'un des leaders mondiaux dans le domaine des instruments et systèmes d’essais électriques, continue d’améliorer les fonctionnalités des systèmes de test paramétrique S530, la solution la plus économique dans l’industrie du semiconducteur pour le test paramétrique en production. Doté de la dernière version du logiciel KTE (Keithley Test Environment) ; V5.4, le S530 peut maintenant être configuré pour la commutation Kelvin en 48 pins et supporte de nouvelles options : la génération d'impulsions, les mesures de fréquence et les mesures de tensions bas niveau. Ces dernières fonctionnalités permettent aux systèmes S530 d’élargir leur utilisation à une plus grande variété d’application de tests paramétriques en production avec une solution ultra rapide et à moindre coût.
Configuration de commutation Kelvin 48 pins
Le système S530 Low Current utilise une matrice de commutation très performante pour aiguiller les signaux entre les instruments et les pins de test, avec une résolution de mesure inférieure au picoampère et une configuration de câblage en mode guard jusqu'à la pointe de mesure. Ces nouvelles fonctionnalités permettent de commuter vers 48 pins (en 4W), ce qui double le nombre de pins Kelvin précédemment disponible. En conservant l'intégrité du signal lors de la commutation et en doublant le nombre maximal de pins du système, le S530 réunit à la fois, précision et rapidité de mesure avec une flexibilité de configuration du système encore améliorée pour assurer une plus large couverture de tests dans le futur.
Nouvelle fonctionnalité de mesure avec un oscillateur annulaire
Une option oscilloscope, ultra rapide et haute résolution supporte le test d'oscillateurs annulaires sur une très large gamme de fréquences. Avec un taux d'échantillonnage max de 400 méga échantillons par seconde, cette nouvelle option permet d’effectuer des mesures de 10KHz à 20MHz approximativement. Les fonctionnalités de mesures de fréquences avec les systèmes de test paramétriques sont devenues de plus en plus importantes du fait que de plus en plus de fabricants dans l’industrie du semiconducteur ont intégré des oscillateurs annulaires dans leurs structures de surveillance du suivi de process.
Nouvelle fonctionnalité de génération d'impulsions
Du fait que de plus en plus de circuits intégrés comportent de la mémoire embarquée comme les mémoires flash, les fabricants de semiconducteur ont ajouté des structures mémoire et des mesures dans leurs programmes de surveillance du suivi de process. Le test de ces composants nécessite la génération d'impulsions définies par l'utilisateur pour programmer et effacer les cellules mémoire, suivi par des mesures de précision DC sur le composant. Pour répondre à ce besoin, le S530 utilise le même châssis équipé habituellement de la carte C-V pour lui rajouter deux, quatre ou six voies d'impulsions. Le système est alors capable de produire une grande diversité de signaux,ce qui accroît encore la flexibilité du système.
Un DMM
Le test de van der Pauw et de structures métalliques font partie de la surveillance du suivi de process et exige à la fois des mesures de tension bas niveau, une résolution de mesure élevée et une excellente repétabilité. Pour ces applications, le S530 dispose en option d'un DMM de 7-1/2 digits, multimètre avec un très faible niveau de bruit orienté sur les mesures de faibles tensions. Il offre une résolution de 10nV sur sa gamme la plus basse (100mV) et de 100nV sur la suivante (1V). Sa répétabilité est de 7ppm en mode DCV.
Choix de système faibles courants ou fortes tensions
Deux systèmes S530 sont disponibles. Le système S530 Low Current a été développé pour mesurer des caractéristiques comme les courants de fuites inférieures aux seuils; les fuites de portes, etc.. Le système S530 High Voltage est équipé d’une unité de source et mesure (SMU), capable de générer 1000V max. sous 20mA (20Wmax.) à toutes les pins du système. Cette version est utilisée pour les tests de claquage et de fuites que les composants de puissance type GaN, SiC et Si LDMOS demandent . Bien que la nouvelle fonctionnalité de 48 points Kelvin soit unique pour un système faible courants toutes les nouvelles options de mesures sont disponibles sur les deux systèmes.
Pour plus d'information , rendez vous sur notre site : http://www.keithley.com/products/semiconductor/parametrictestsys/
A propos de Keithley Instruments
Avec plus de 60 années d'expertise dans la mesure, Keithley Instruments est devenu un leader mondial dans le domaine des instruments et des systèmes de mesures électriques avancées. Nos clients sont des scientifiques et des ingénieurs dans le monde entier travaillant dans l'industrie électronique et engagés dans la recherche avancée sur les matériaux, le développement et la fabrication des composants semi-conducteurs et la production de produits finis tels que les composants pour les communications sans fil utilisés sur les portables. La valeur ajoutée que nous leur apportons est à la fois un ensemble de produits pour les mesures critiques et une pleine compréhension des applications afin d'améliorer la qualité des produits et une réduction des coûts du test. En 2010, Keithley Instruments a rejoint Tektronix et constitue une partie de son portefeuille test et mesures.
* * *
Les produits et les noms des sociétés énumérées ici sont des marques ou des appellations commerciales de leur société respective.
Contact lecteur:
Keithley Instruments GmbH
Tel.: +49-89-84 93 07-40
Contact presse:
PRismaPR
Gabriele Amelunxen
Tel.: +49-8106-24 72 33